非線性快速溫變試驗箱

在半導體制造和質量控制流程中，快速溫變試驗箱主要用于執(zhí)行兩類核心測試：高加速壽命試驗（HALT） 和 溫度循環(huán)試驗（TCT）。在HALT中，試驗箱通過快速、大幅度的溫變（例如-55℃至+125℃）結合振動等多應力，激發(fā)產品的設計裕度和潛在失效模式，從而在設計階段早期發(fā)現(xiàn)并改進弱點。在TCT中，則模擬器件在實際使用中經歷的溫度變化（如日夜溫差、開關機循環(huán)），評估其長期可靠性，特別是焊點疲勞、材料熱失配等問題。這兩類測試貫穿了芯片設計驗證、工藝優(yōu)化到量產篩選的全生命周期。

半導體可靠性測試需求

近年來，汽車電子、工業(yè)控制和5G通信等領域對半導體器件可靠性的要求顯著提升，推動了HALT和TCT測試需求的增長。這直接反映了終端應用的復雜化、安全標準升級以及半導體產品本身性能極限的不斷突破。盡管芯片設計和封裝技術持續(xù)進步，旨在提升其固有可靠性，但對嚴苛環(huán)境適應性的驗證需求預計將持續(xù)增長。

與傳統(tǒng)慢速溫變試驗箱相比，快速溫變試驗箱的核心優(yōu)勢在于其很高的溫度變化速率和精確的溫度控制：

傳統(tǒng)方案： 使用普通高低溫試驗箱進行溫循測試，溫變速率慢（可能僅1-5℃/min），測試周期長，效率低，難以有效激發(fā)某些快速響應的失效模式。

現(xiàn)代方案： 使用專為快速溫變設計的試驗箱，如廣皓天TEE-408PF，能夠實現(xiàn)高達15-25℃/min 甚至更高的線性溫變速率（從低溫到高溫或反之），大幅縮短測試時間，更快暴露產品缺陷。

非線性快速溫變試驗箱

TEE-408PF：為半導體測試賦能

作為一款針對嚴苛工業(yè)環(huán)境設計的快速溫變試驗箱，廣皓天TEE-408PF充分體現(xiàn)了上述關鍵特性：
* 性能出色： 提供行業(yè)高線性溫變速率（≥15℃/min），確保測試高效進行。
* 精準穩(wěn)定： ±0.5℃的控制精度和優(yōu)異的均勻性，為可靠性數據提供堅實基礎。
* 堅固耐用： 工業(yè)級元器件和結構設計，保障長期高負荷運行的可靠性，降低維護成本和停機風險。
* 安全智能： 多重安全保護與用戶友好的控制系統(tǒng)（如大尺寸觸摸屏、數據記錄、遠程監(jiān)控接口），提升操作安全性和便捷性。
* 靈活定制： 可根據客戶特定需求（如特殊溫區(qū)、尺寸、潔凈度、接口）進行配置優(yōu)化。